Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Автори: | Nellist, P, Rodenburg, J |
---|---|
Формат: | Journal article |
Опубліковано: |
1998
|
Схожі ресурси
-
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (1995) -
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (1994) -
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
за авторством: Allen, CS, та інші
Опубліковано: (2023) -
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
за авторством: D'Alfonso, A, та інші
Опубліковано: (2014) -
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
за авторством: Pennycook, TJ, та інші
Опубліковано: (2018)