Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
Electron ptychography. I. Expe...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Médium:
Journal article
Vydáno:
1998
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
Autor: Nellist, P, a další
Vydáno: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
Autor: Nellist, P, a další
Vydáno: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
Autor: Allen, CS, a další
Vydáno: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
Autor: D'Alfonso, A, a další
Vydáno: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
Autor: Pennycook, TJ, a další
Vydáno: (2018)