Neidio i'r cynnwys
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Iaith
Pob Maes
Teitl
Awdur
Pwnc
Rhif Galw
ISBN/ISSN
Tag
Canfod
Uwch
Electron ptychography. I. Expe...
Dyfynnu hwn
Anfonwch hwn fel neges destun
E-bostio hwn
Argraffu
Allforio Cofnod
Allforio i RefWorks
Allforio i EndNoteWeb
Allforio i EndNote
Permanent link
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awduron:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Fformat:
Journal article
Cyhoeddwyd:
1998
Daliadau
Disgrifiad
Eitemau Tebyg
Dangos Staff
Eitemau Tebyg
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
gan: Nellist, P, et al.
Cyhoeddwyd: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
gan: Nellist, P, et al.
Cyhoeddwyd: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
gan: Allen, CS, et al.
Cyhoeddwyd: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
gan: D'Alfonso, A, et al.
Cyhoeddwyd: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
gan: Pennycook, TJ, et al.
Cyhoeddwyd: (2018)