Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
Electron ptychography. I. Expe...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Formatua:
Journal article
Argitaratua:
1998
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Antzeko izenburuak
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
nork: Nellist, P, et al.
Argitaratua: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
nork: Nellist, P, et al.
Argitaratua: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
nork: Allen, CS, et al.
Argitaratua: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
nork: D'Alfonso, A, et al.
Argitaratua: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
nork: Pennycook, TJ, et al.
Argitaratua: (2018)