Siirry sisältöön
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Kieli
Kaikki kentät
Nimeke
Tekijä
Aihe
Hyllypaikka
ISBN/ISSN
Tagi
Hae
Tarkennettu
Electron ptychography. I. Expe...
Sitaatti
Tekstiviesti
Lähetä sähköpostilla
Tulosta
Vie tietue
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Pysyvä linkki
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Bibliografiset tiedot
Päätekijät:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Aineistotyyppi:
Journal article
Julkaistu:
1998
Saatavuustiedot
Kuvaus
Samankaltaisia teoksia
Henkilökuntanäyttö
Samankaltaisia teoksia
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
Tekijä: Nellist, P, et al.
Julkaistu: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
Tekijä: Nellist, P, et al.
Julkaistu: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
Tekijä: Allen, CS, et al.
Julkaistu: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
Tekijä: D'Alfonso, A, et al.
Julkaistu: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
Tekijä: Pennycook, TJ, et al.
Julkaistu: (2018)