Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Electron ptychography. I. Expe...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
מידע ביבליוגרפי
Main Authors:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
פורמט:
Journal article
יצא לאור:
1998
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
מאת: Nellist, P, et al.
יצא לאור: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
מאת: Nellist, P, et al.
יצא לאור: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
מאת: Allen, CS, et al.
יצא לאור: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
מאת: D'Alfonso, A, et al.
יצא לאור: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
מאת: Pennycook, TJ, et al.
יצא לאור: (2018)