Preskoči na sadržaj
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Sva polja
Naslov
Autor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Pronađi
Napredno
Electron ptychography. I. Expe...
Citiraj ovo
Pošalji tekstualnu poruku
Pošalji ovo e-mailom
Ispiši
Izvezi zapis
Izvezi u RefWorks
Izvezi u EndNoteWeb
Izvezi u EndNote
Stalna poveznica
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Bibliografski detalji
Glavni autori:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Format:
Journal article
Izdano:
1998
Primjerci
Opis
Slični predmeti
Prikaz za djelatnike knjižnice
Slični predmeti
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
od: Nellist, P, i dr.
Izdano: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
od: Nellist, P, i dr.
Izdano: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
od: Allen, CS, i dr.
Izdano: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
od: D'Alfonso, A, i dr.
Izdano: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
od: Pennycook, TJ, i dr.
Izdano: (2018)