Hoppa till innehåll
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Språk
Alla fält
Titel
Upphovsman
Ämne
Signum
ISBN/ISSN
Tagg
Sök
Avancerad
Electron ptychography. I. Expe...
Hänvisa
Textmeddelande
Skicka per e-post
Skriv ut
Exportera posten
Exportera till: RefWorks
Exportera till: EndNoteWeb
Exportera till: EndNote
Permanent länk
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsmän:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Materialtyp:
Journal article
Publicerad:
1998
Beståndsuppgifter
Beskrivning
Liknande verk
Katalogiseringsuppgifter
Liknande verk
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
av: Nellist, P, et al.
Publicerad: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
av: Nellist, P, et al.
Publicerad: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
av: Allen, CS, et al.
Publicerad: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
av: D'Alfonso, A, et al.
Publicerad: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
av: Pennycook, TJ, et al.
Publicerad: (2018)