Przejdź do treści
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Język
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Etykieta
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
GETTERING OF COPPER AND IRON T...
Cytować
Wyślij wiadomość
Wyślij emailem
Drukuj
Eksportuj rekord
Eksportuj do RefWorks
Eksportuj do EndNoteWeb
Eksportuj do EndNote
Odnośnik bezpośredni
GETTERING OF COPPER AND IRON TO EXTENDED SURFACE-DEFECTS IN SILICON
Opis bibliograficzny
Główni autorzy:
Decoteau, M
,
Wilshaw, P
,
Falster, R
Format:
Conference item
Wydane:
1992
Egzemplarz
Opis
Podobne zapisy
Wersja MARC
Podobne zapisy
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
od: Decoteau, M, i wsp.
Wydane: (1991)
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
od: Decoteau, M, i wsp.
Wydane: (1991)
PRECIPITATION OF IRON IN SILICON - GETTERING TO EXTENDED SURFACE DEFECT SITES
od: Decoteau, M, i wsp.
Wydane: (1991)
GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
od: Decoteau, M, i wsp.
Wydane: (1990)
GETTERING IN SILICON
od: Falster, R
Wydane: (1989)