Investigation of threading dislocation blocking in strained-layer InGaAs/GaAs heterostructures using scanning cathodoluminescence microscopy
Những tác giả chính: | Russell, J, Zou, J, Moon, A, Cockayne, D |
---|---|
Định dạng: | Journal article |
Được phát hành: |
2000
|
Những quyển sách tương tự
-
Cathodoluminescence study of oval defects in MBE grown InGaAs/GaAs
Bằng: RussellHarriott, J, et al.
Được phát hành: (1996) -
Investigation of oval defects in InGaAs/GaAs strained-layer heterostructures using cathodoluminescence and wavelength dispersive spectroscopy
Bằng: Russell-Harriott, J, et al.
Được phát hành: (1998) -
Oval defects in InGaAs/GaAs heterostructures
Bằng: Russell-Harriott, J, et al.
Được phát hành: (1998) -
Estimation of the MQW InGaAs/GaAs heterostructures stability to the formation of misfit dislocations
Bằng: A. A. Maldzhy, et al.
Được phát hành: (2006-12-01) -
Misfit dislocations generated from inhomogeneous sources and their critical thicknesses in a InGaAs/GaAs heterostructure grown by molecular beam epitaxy
Bằng: Zou, J, et al.
Được phát hành: (1997)