Developments in C-s-corrected STEM

Developments in C-s-corrected STEM

The new corrector of spherical aberration (C-s) we have built for a Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) is described. We have recently installed such a corrector in a dedicated 100 kV STEM at Oak Ridge National Laboratory and the first results are presented. We conclude by discussing up...

Повний опис

Бібліографічні деталі
Автори:	Lupini, A, Krivanek, O, Dellby, N, Nellist, P, Pennycook, S
Формат:	Conference item
Опубліковано:	2001

Схожі ресурси

Towards sub-0.5 angstrom beams through aberration corrected STEM
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2004)

Aberration-corrected STEM: current performance and future directions
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2006)

Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
за авторством: Dellby, N, та інші
Опубліковано: (2001)

Nanoscale structure/property correlation through aberration-corrected stem and theory
за авторством: Pennycook, S, та інші
Опубліковано: (2003)

An Aberration-Corrected STEM for Diffraction Studies.
за авторством: Krivanek, O, та інші
Опубліковано: (2005)

Design and Testing of a Quadrupole/Octupole C3/C5 Aberration Corrector.
за авторством: Dellby, N, та інші
Опубліковано: (2005)

Direct sub-angstrom imaging of a crystal lattice.
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2004)

Materials analysis by aberration-corrected STEM
за авторством: Krivanek, O, та інші
Опубліковано: (2005)

Spectroscopic imaging of single atoms within a bulk solid.
за авторством: Varela, M, та інші
Опубліковано: (2004)

Towards sub-0.5 A electron beams.
за авторством: Krivanek, O, та інші
Опубліковано: (2003)

Efficient phase contrast imaging in STEM using a pixelated detector. Part 1: Experimental demonstration at atomic resolution.
за авторством: Pennycook, T, та інші
Опубліковано: (2014)

Aberration measurement using the Ronchigram contrast transfer function.
за авторством: Lupini, A, та інші
Опубліковано: (2010)

Aberration measurement using the Ronchigram constrast transfer function
за авторством: Lupini, A, та інші
Опубліковано: (2010)

Quantitative sub-angstrom imaging through ADF STEM
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (1998)

Accurate structure determination from image reconstruction in ADF STEM
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (1998)

Subangstrom resolution imaging using annular dark-field STEM
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (1999)

On the origin of transverse incoherence in Z-contrast STEM.
за авторством: Rafferty, B, та інші
Опубліковано: (2001)

Direct structure determination by atomic-resolution incoherent STEM imaging
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (1997)

EELS in the STEM: Determination of materials properties on the atomic scale
за авторством: Browning, N, та інші
Опубліковано: (1997)

Z-contrast Imaging in an Aberration-corrected Scanning Transmission Electron Microscope.
за авторством: Pennycook, S, та інші
Опубліковано: (2000)

Making the link between ADF and 4D STEM: Resolution, transfer and coherence
за авторством: Nellist, PD, та інші
Опубліковано: (2024)

HAADF-STEM imaging with sub-angstrom probes: a full Bloch wave analysis.
за авторством: Peng, Y, та інші
Опубліковано: (2004)

Efficient phase contrast imaging in STEM using a pixelated detector. Part II: Optimisation of imaging conditions.
за авторством: Yang, H, та інші
Опубліковано: (2014)

High angle dark field STEM for advanced materials
за авторством: Pennycook, S, та інші
Опубліковано: (1996)

Determination of atomic structure at surfaces and interfaces by high-resolution stem
за авторством: Pennycook, S, та інші
Опубліковано: (1997)

Subangstrom resolution by underfocused incoherent transmission electron microscopy
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (1998)

The principles and interpretation of annular dark-field Z-contrast imaging
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2000)

Z-contrast scanning transmission electron microscopy
за авторством: Pennycook, S, та інші
Опубліковано: (1999)

Atomic resolution Z-contrast imaging of ultradispersed catalysts
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (1997)

Incoherent imaging using dynamically scattered coherent electrons
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (1999)

Direct imaging of the atomic configuration of ultradispersed catalysts
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (1996)

Transmission electron microscopy: Overview and challenges
за авторством: Pennycook, S, та інші
Опубліковано: (2003)

A Bloch wave analysis of optical sectioning in aberration-corrected STEM.
за авторством: Cosgriff, E, та інші
Опубліковано: (2007)

STEM Image Post-processing for Instability and Aberration Correction for Transfer Function Extension
за авторством: Jones, L, та інші
Опубліковано: (2012)

Direct observations of atomic structures of defects in GaN by high resolution Z-contrast stem
за авторством: Xin, Y, та інші
Опубліковано: (1998)

Quantitative techniques for aberration corrected HAADF STEM of nano-materials
за авторством: E, H, та інші
Опубліковано: (2012)

Prospects for 3D characterization of materials by aberration-corrected STEM and SCEM
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2007)

Probe integrated scattering cross sections in the analysis of atomic resolution HAADF STEM images.
за авторством: E, H, та інші
Опубліковано: (2013)

Nanoscale momentum-resolved vibrational spectroscopy
за авторством: Hage, F, та інші
Опубліковано: (2018)

Near-Ideal Direct-Electron Focused-Probe 4D-STEM Data for Open-Source Phase Reconstructions
за авторством: Susi Toma, та інші
Опубліковано: (2024-01-01)