Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
Nanoscale structure/property c...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
Nanoscale structure/property correlation through aberration-corrected stem and theory
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Pennycook, S
,
Lupini, A
,
Varela, M
,
Borisevich, A
,
Chisholm, M
,
Abe, E
,
Dellby, N
,
Krivanek, O
,
Nellist, P
,
Wang, L
,
Buczko, R
,
Fan, X
,
Pantelides, S
Format:
Conference item
Publicat:
2003
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
Aberration-corrected STEM: current performance and future directions
per: Nellist, P, et al.
Publicat: (2006)
Towards sub-0.5 angstrom beams through aberration corrected STEM
per: Nellist, P, et al.
Publicat: (2004)
Developments in C-s-corrected STEM
per: Lupini, A, et al.
Publicat: (2001)
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
per: Dellby, N, et al.
Publicat: (2001)
An Aberration-Corrected STEM for Diffraction Studies.
per: Krivanek, O, et al.
Publicat: (2005)