Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
ELECTRON-MICROSCOPY OF EPITAXI...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
ELECTRON-MICROSCOPY OF EPITAXIAL STRUCTURES
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Kiselev, N
,
Vasiliev, A
,
Lebedev, O
,
Givargizov, E
,
Stepanova, A
,
Kiselev, A
,
Hutchison, J
Format:
Conference item
Publicat:
1993
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
TEM and HREM of diamond crystals grown on Si tips: structure and results of ion-beam-treatment.
per: Kiselev, N, et al.
Publicat: (2005)
Structural characterization of interfaces in epitaxial Fe/MgO/Fe magnetic tunnel junctions by transmission electron microscopy
per: Wang, C, et al.
Publicat: (2010)
Scanning tunnelling microscopy of epitaxial nanostructures.
per: Marshall, MS, et al.
Publicat: (2014)
In situ reflection electron microscopy for the surface processes analysis during sublimation and epitaxial growth of layered metal chalcogenides
per: Sergei A. Ponomarev, et al.
Publicat: (2024-12-01)
Understanding the small world : an insight into the application of transmission electron microscopy in characterizing epitaxial layer /
per: 465403 Zul Azhar Zahid Jamal
Publicat: (2010)