Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
语言
全文检索
题名
作者
主题
索引号
ISBN/ISSN
标签
检索
高级检索
Real-space Measurements of Bon...
引用
发送短信
推荐此
打印
导出纪录
导出到 RefWorks
导出到 EndNoteWeb
导出到 EndNote
Permanent link
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
书目详细资料
Main Authors:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
格式:
Journal article
出版:
2009
持有资料
实物特征
相似书籍
职员浏览
相似书籍
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
由: Ciston, J, et al.
出版: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
由: Ciston, J, et al.
出版: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
由: Hetherington, C, et al.
出版: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
由: Hutchison, J, et al.
出版: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
由: Haigh, S, et al.
出版: (2011)