Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
Real-space Measurements of Bon...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Formaat:
Journal article
Gepubliceerd in:
2009
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Omschrijving
Samenvatting:
Gelijkaardige items
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
door: Ciston, J, et al.
Gepubliceerd in: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
door: Ciston, J, et al.
Gepubliceerd in: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
door: Hetherington, C, et al.
Gepubliceerd in: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
door: Hutchison, J, et al.
Gepubliceerd in: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
door: Haigh, S, et al.
Gepubliceerd in: (2011)