Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Hlavní autoři: | Ciston, J, Haigh, S, Kim, J, Kirkland, A, Marks, L |
---|---|
Médium: | Journal article |
Vydáno: |
2009
|
Podobné jednotky
-
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
Autor: Ciston, J, a další
Vydáno: (2009) -
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
Autor: Ciston, J, a další
Vydáno: (2011) -
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
Autor: Hetherington, C, a další
Vydáno: (2005) -
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
Autor: Hutchison, J, a další
Vydáno: (2005) -
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
Autor: Haigh, S, a další
Vydáno: (2011)