Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Հիմնական հեղինակներ: | Ciston, J, Haigh, S, Kim, J, Kirkland, A, Marks, L |
---|---|
Ձևաչափ: | Journal article |
Հրապարակվել է: |
2009
|
Նմանատիպ նյութեր
-
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
: Ciston, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2009) -
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
: Ciston, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2011) -
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
: Hetherington, C, և այլն
Հրապարակվել է: (2005) -
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
: Hutchison, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2005) -
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
: Haigh, S, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)