Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
Real-space Measurements of Bon...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Format:
Journal article
Publicat:
2009
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
per: Ciston, J, et al.
Publicat: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
per: Ciston, J, et al.
Publicat: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
per: Hetherington, C, et al.
Publicat: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
per: Hutchison, J, et al.
Publicat: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
per: Haigh, S, et al.
Publicat: (2011)