Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
Real-space Measurements of Bon...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Médium:
Journal article
Vydáno:
2009
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
Autor: Ciston, J, a další
Vydáno: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
Autor: Ciston, J, a další
Vydáno: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
Autor: Hetherington, C, a další
Vydáno: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
Autor: Hutchison, J, a další
Vydáno: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
Autor: Haigh, S, a další
Vydáno: (2011)