Neidio i'r cynnwys
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Iaith
Pob Maes
Teitl
Awdur
Pwnc
Rhif Galw
ISBN/ISSN
Tag
Canfod
Uwch
Real-space Measurements of Bon...
Dyfynnu hwn
Anfonwch hwn fel neges destun
E-bostio hwn
Argraffu
Allforio Cofnod
Allforio i RefWorks
Allforio i EndNoteWeb
Allforio i EndNote
Permanent link
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awduron:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Fformat:
Journal article
Cyhoeddwyd:
2009
Daliadau
Disgrifiad
Eitemau Tebyg
Dangos Staff
Eitemau Tebyg
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
gan: Ciston, J, et al.
Cyhoeddwyd: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
gan: Ciston, J, et al.
Cyhoeddwyd: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
gan: Hetherington, C, et al.
Cyhoeddwyd: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
gan: Hutchison, J, et al.
Cyhoeddwyd: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
gan: Haigh, S, et al.
Cyhoeddwyd: (2011)