Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Real-space Measurements of Bon...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Μορφή:
Journal article
Έκδοση:
2009
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
ανά: Ciston, J, κ.ά.
Έκδοση: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
ανά: Ciston, J, κ.ά.
Έκδοση: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
ανά: Hetherington, C, κ.ά.
Έκδοση: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
ανά: Hutchison, J, κ.ά.
Έκδοση: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
ανά: Haigh, S, κ.ά.
Έκδοση: (2011)