Siirry sisältöön
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Kieli
Kaikki kentät
Nimeke
Tekijä
Aihe
Hyllypaikka
ISBN/ISSN
Tagi
Hae
Tarkennettu
Real-space Measurements of Bon...
Sitaatti
Tekstiviesti
Lähetä sähköpostilla
Tulosta
Vie tietue
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Pysyvä linkki
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Bibliografiset tiedot
Päätekijät:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Aineistotyyppi:
Journal article
Julkaistu:
2009
Saatavuustiedot
Kuvaus
Samankaltaisia teoksia
Henkilökuntanäyttö
Samankaltaisia teoksia
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
Tekijä: Ciston, J, et al.
Julkaistu: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
Tekijä: Ciston, J, et al.
Julkaistu: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
Tekijä: Hetherington, C, et al.
Julkaistu: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
Tekijä: Hutchison, J, et al.
Julkaistu: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
Tekijä: Haigh, S, et al.
Julkaistu: (2011)