Léim chuig an ábhar
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Teanga
Gach réimse
Teideal
Údar
Ábhar
Gairmuimhir
ISBN/ISSN
Clib
AIMSIGH
CASTA
Real-space Measurements of Bon...
Luaigh é seo
Seol mar théacs é seo
Seol é seo mar r-phost
Priontáil
Easpórtáil taifead
Easpórtáil chuig RefWorks
Easpórtáil chuig EndNoteWeb
Easpórtáil chuig EndNote
Buan-nasc
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoirí:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Formáid:
Journal article
Foilsithe / Cruthaithe:
2009
Stoc
Cur síos
Míreanna comhchosúla
Amharc foirne
Míreanna comhchosúla
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
de réir: Ciston, J, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
de réir: Ciston, J, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
de réir: Hetherington, C, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
de réir: Hutchison, J, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
de réir: Haigh, S, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2011)