Անցեք բովանդակությանը
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Լեզու
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
Դասիչ
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
Real-space Measurements of Bon...
Վկայակոչեք սա
Գրեք սա
Էլփոստով ուղարկեք սա
Տպել
Արտահանել գրառումը
Արտահանել դեպի RefWorks
Արտահանել դեպի EndNoteWeb
Արտահանել դեպի EndNote
Մշտական հղում
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Ձևաչափ:
Journal article
Հրապարակվել է:
2009
Պահումներ
Նկարագրություն
Նմանատիպ նյութեր
Աշխատակազմի տեսք
Նմանատիպ նյութեր
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
: Ciston, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
: Ciston, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
: Hetherington, C, և այլն
Հրապարակվել է: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
: Hutchison, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
: Haigh, S, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)