Salta al contenuto
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Lingua
Tutti i Campi
Titolo
Autore
Soggetto
Collocazione
ISBN/ISSN
Tag
Cerca
Avanzata
Real-space Measurements of Bon...
Citazione
Invia SMS
Invia email
Stampa
Esporta il record
Esporta a RefWorks
Esporta a EndNoteWeb
Esporta a EndNote
PLink permanente
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Dettagli Bibliografici
Autori principali:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Natura:
Journal article
Pubblicazione:
2009
Posseduto
Descrizione
Documenti analoghi
MARC21
Documenti analoghi
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
di: Ciston, J, et al.
Pubblicazione: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
di: Ciston, J, et al.
Pubblicazione: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
di: Hetherington, C, et al.
Pubblicazione: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
di: Hutchison, J, et al.
Pubblicazione: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
di: Haigh, S, et al.
Pubblicazione: (2011)