コンテンツを見る
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
言語
全フィールド
タイトル
著者
主題
請求記号
ISBN/ISSN
タグ
検索
詳細検索
Real-space Measurements of Bon...
この資料を引用
この資料をSMS送信
この資料をメール
印刷
エクスポート
エクスポート先: RefWorks
エクスポート先: EndNoteWeb
エクスポート先: EndNote
パーマネントリンク
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
書誌詳細
主要な著者:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
フォーマット:
Journal article
出版事項:
2009
所蔵
その他の書誌記述
類似資料
MARC表示
類似資料
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
著者:: Ciston, J, 等
出版事項: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
著者:: Ciston, J, 等
出版事項: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
著者:: Hetherington, C, 等
出版事項: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
著者:: Hutchison, J, 等
出版事項: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
著者:: Haigh, S, 等
出版事項: (2011)