Przejdź do treści
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Język
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Etykieta
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
Real-space Measurements of Bon...
Cytować
Wyślij wiadomość
Wyślij emailem
Drukuj
Eksportuj rekord
Eksportuj do RefWorks
Eksportuj do EndNoteWeb
Eksportuj do EndNote
Odnośnik bezpośredni
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Opis bibliograficzny
Główni autorzy:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Format:
Journal article
Wydane:
2009
Egzemplarz
Opis
Podobne zapisy
Wersja MARC
Podobne zapisy
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
od: Ciston, J, i wsp.
Wydane: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
od: Ciston, J, i wsp.
Wydane: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
od: Hetherington, C, i wsp.
Wydane: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
od: Hutchison, J, i wsp.
Wydane: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
od: Haigh, S, i wsp.
Wydane: (2011)