Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
Real-space Measurements of Bon...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Бібліографічні деталі
Автори:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Формат:
Journal article
Опубліковано:
2009
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
за авторством: Ciston, J, та інші
Опубліковано: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
за авторством: Ciston, J, та інші
Опубліковано: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
за авторством: Hetherington, C, та інші
Опубліковано: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
за авторством: Hutchison, J, та інші
Опубліковано: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
за авторством: Haigh, S, та інші
Опубліковано: (2011)