Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
Real-space Measurements of Bon...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Định dạng:
Journal article
Được phát hành:
2009
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
Bằng: Ciston, J, et al.
Được phát hành: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
Bằng: Ciston, J, et al.
Được phát hành: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
Bằng: Hetherington, C, et al.
Được phát hành: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
Bằng: Hutchison, J, et al.
Được phát hành: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
Bằng: Haigh, S, et al.
Được phát hành: (2011)