High-resolution electron backscatter diffraction in III-nitride semiconductors

Схожі ресурси

• Cross-correlation based high resolution electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging for strain mapping and dislocation distributions in InAlN thin films
  за авторством: Wilkinson, A, та інші
  Опубліковано: (2016)
• Characterization of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging
  за авторством: Trager-Cowan, C, та інші
  Опубліковано: (2006)
• Characterisation of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging
  за авторством: Trager-Cowan, C, та інші
  Опубліковано: (2006)
• Electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging of tilt and dislocations in nitride thin films
  за авторством: Trager-Cowan, C, та інші
  Опубліковано: (2007)
• Analysis of dislocation densities using high resolution electron backscatter diffraction
  за авторством: Vilalta-Clemente, A, та інші
  Опубліковано: (2015)