High-resolution electron backscatter diffraction in III-nitride semiconductors

Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak: Vilalta-Clemente, A, Naresh-Kumar, G, Nouf Allehiani, M, Parbrook, P, Boulbar, E, Allsopp, D, Shields, P, Trager-Cowan, C, Wilkinson, A
Formatua: Conference item
Argitaratua: Cambridge University Press 2015

Antzeko izenburuak