High-resolution electron backscatter diffraction in III-nitride semiconductors

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Vilalta-Clemente, A, Naresh-Kumar, G, Nouf Allehiani, M, Parbrook, P, Boulbar, E, Allsopp, D, Shields, P, Trager-Cowan, C, Wilkinson, A
Ձևաչափ: Conference item
Հրապարակվել է: Cambridge University Press 2015

Նմանատիպ նյութեր