X-ray metrology of an array of active edge pixel sensors for use at synchrotron light sources
We report on the production and testing of an array of active edge silicon sensors as a prototype of a large array. Four Medipix3RX.1 chips were bump bonded to four single chip sized Advacam active edge n-on-n sensors. These detectors were then mounted into a 2 by 2 array and tested on B16 at Diamon...
Hlavní autoři: | Plackett, R, Arndt, K, Bortoletto, D, Horswell, I, Lockwood, G, Shipsey, I, Tartoni, N, Williams, S |
---|---|
Médium: | Journal article |
Jazyk: | English |
Vydáno: |
Elsevier
2017
|
Podobné jednotky
Synchrotron X-Ray Studies of Surface Disordering
Autor: Birgeneau, Robert J., a další
Vydáno: (2010)
Autor: Birgeneau, Robert J., a další
Vydáno: (2010)
Synchrotron X-Ray Studies of Surface Disordering
Autor: Birgeneau, Robert J., a další
Vydáno: (2010)
Autor: Birgeneau, Robert J., a další
Vydáno: (2010)
Synchrotron X-Ray Studies of Surface Disordering
Autor: Birgeneau, Robert J., a další
Vydáno: (2010)
Autor: Birgeneau, Robert J., a další
Vydáno: (2010)
Podobné jednotky
-
Applications of synchrotron light in seed research: an array of x-ray and infrared imaging methodologies
Autor: Paula Ashe, a další
Vydáno: (2025-02-01) -
Mapping of multi-elements during melting and solidification using synchrotron X-rays and pixel-based spectroscopy.
Autor: Liotti, E, a další
Vydáno: (2015) -
Perspective of perovskite-based X-ray hybrid pixel array detectors
Autor: Michael Fiederle, a další
Vydáno: (2024-07-01) -
X-ray metrology in semiconductor manufacturing /
Autor: Bowen, D. Keith (David Keith), 1940-, a další
Vydáno: (2006) -
Assembly and qualification procedures of CMS forward pixel detector modules
Autor: Koybasi, O, a další
Vydáno: (2011)