Electron diffraction from nanovolumes of amorphous material using coherent convergent illumination.
Using a conventional transmission electron microscope that incorporates a field emission gun it is possible to focus an electron beam to form a small probe (<1nm full-width at half-maximum). Such a probe can then be used to perform high spatial resolution diffraction experiments. The high spa...
প্রধান লেখক: | McBride, W, Cockayne, D, Nguyen-Manh, D |
---|---|
বিন্যাস: | Journal article |
ভাষা: | English |
প্রকাশিত: |
2003
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
The structure of nanovolumes of amorphous materials
অনুযায়ী: McBride, W, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2003) -
Deconvolution of electron diffraction patterns of amorphous materials formed with convergent beam.
অনুযায়ী: McBride, W, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2003) -
Characterization of Amorphous Materials by Electron Diffraction and Atomistic Modeling.
অনুযায়ী: Cockayne, D, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2000) -
Reduced density function analysis using convergent electron illumination and iterative blind deconvolution
অনুযায়ী: McBride, W, অন্যান্য
প্রকাশিত: (1999) -
Electron diffraction studies of the structure of amorphous and polycrystalline materials
অনুযায়ী: Cockayne, D, অন্যান্য
প্রকাশিত: (1998)