Saltar ao contenido
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Todos os campos
Title
Autor
Subject
Número de Clasificación
ISBN/ISSN
Tag
Buscar
Avanzado
Three-dimensional atom probe s...
Citar
Text this
Enviar este rexistro por email
Imprimir
Exportar rexistro
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Permanent link
Three-dimensional atom probe studies of an InxGa1-xN/GaN multiple quantum well structure: Assessment of possible indium clustering
Detalles Bibliográficos
Main Authors:
Galtrey, M
,
Oliver, R
,
Kappers, M
,
Humphreys, C
,
Stokes, D
,
Clifton, P
,
Cerezo, A
Formato:
Journal article
Publicado:
2007
Existencias
Descripción
Títulos similares
Staff View
Títulos similares
Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
por: Bennett, SE, et al.
Publicado: (2011)
Response to "Comment on 'Three-dimensional atom probe studies of an InxGa1-N-x/GaN multiple quantum well structure: assessment of possible indium clustering'" [Appl. Phys. Lett. 91, 176101, (2007)]
por: Galtrey, M, et al.
Publicado: (2007)
Carrier dynamics of InxGa1-xN quantum disks embedded in GaN nanocolumns
por: Holmes, M, et al.
Publicado: (2011)
Carrier dynamics of InxGa1-xN quantum disks embedded in GaN nanocolumns
por: Holmes, M, et al.
Publicado: (2011)
Potentials of InxGa1-xN photovoltaic tandems
por: F. Bouzid, et al.
Publicado: (2011-03-01)