$Measurement of fatigue crack plastic zones in fine grained materials using electron backscattered diffraction$

Measurement of fatigue crack plastic zones in fine grained materials using electron backscattered diffraction

Показати інші версії (1)

Бібліографічні деталі
Автори:	Tucker, A, Wilkinson, A, Henderson, M, Ubhi, H, Martin, J
Формат:	Journal article
Опубліковано:	2000

Схожі ресурси

Measurement of fatigue crack plastic zones in fine grained materials using electron backscattered diffraction
за авторством: Tucker, A, та інші
Опубліковано: (2000)

Examination of fatigue crack plastic zones using scanning-electron-microscope-based electron diffraction techniques
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (1996)

Characterisation of plastic zones around crack-tips in pure single-crystal tungsten using electron backscatter diffraction
за авторством: Murphy, J, та інші
Опубліковано: (2009)

Measurement of plastic strain of polycrystalline material by electron backscatter diffraction
за авторством: Kamaya, M, та інші
Опубліковано: (2005)

Quantification of plastic strain of stainless steel and nickel alloy by electron backscatter diffraction
за авторством: Kamaya, M, та інші
Опубліковано: (2006)

Electron backscatter diffraction in materials characterization
за авторством: Dejan Stojakovic
Опубліковано: (2012-03-01)

Strain mapping using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2009)

Direct detection of electron backscatter diffraction patterns.
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2013)

Methods for determining elastic strains from electron backscatter diffraction and electron channelling patterns
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1997)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2013)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Electron backscatter diffraction in the silicon nanowires
за авторством: K.K. Dikhanbayev, та інші
Опубліковано: (2016-10-01)

Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
за авторством: Dingley, D, та інші
Опубліковано: (2010)

3D backscatter localization for fine-grained robotics
за авторством: Luo, Zhihong
Опубліковано: (2020)

Analysis of dislocation densities using high resolution electron backscatter diffraction
за авторством: Vilalta-Clemente, A, та інші
Опубліковано: (2015)

Measurement of residual elastic strain and lattice rotations with high resolution electron backscatter diffraction.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2011)

High-resolution electron backscatter diffraction in III-nitride semiconductors
за авторством: Vilalta-Clemente, A, та інші
Опубліковано: (2015)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements.
за авторством: Tong, V, та інші
Опубліковано: (2015)

Applications of multivariate statistical methods and simulation libraries to analysis of electron backscatter diffraction and transmission Kikuchi diffraction datasets
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2018)

Electron backscatter diffraction study for advanced semiconductor interconnect materials analysis
за авторством: Lee, Aaron Wai Ken
Опубліковано: (2022)

Crystallographic mechanism for fatigue crack propagation through grain boundaries
за авторством: Zhai, T, та інші
Опубліковано: (2000)

High-resolution electron backscatter diffraction: an emerging tool for studying local deformation
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2010)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2006)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2006)

A crystallographic mechanism for fatigue crack propagation through grain boundaries
за авторством: Zhai, T, та інші
Опубліковано: (2000)

High resolution electron backscatter diffraction measurements of elastic strain variations in the presence of larger lattice rotations.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2012)

Rapid electron backscatter diffraction mapping: painting by numbers
за авторством: Tong, V, та інші
Опубліковано: (2018)

Tetragonality of Fe-C martensite – a pattern matching electron backscatter diffraction analysis compared to X-ray diffraction
за авторством: Tanaka, T, та інші
Опубліковано: (2020)

Characterization of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging
за авторством: Trager-Cowan, C, та інші
Опубліковано: (2006)

Characterisation of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging
за авторством: Trager-Cowan, C, та інші
Опубліковано: (2006)

On the effects of reorientation and shear transfer during twin formation: comparison between high resolution electron backscatter diffraction experiments and a crystal plasticity finite element model
за авторством: Abdolvand, H, та інші
Опубліковано: (2016)

An iterative method for reference pattern selection in high-resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD)
за авторством: Koko, A, та інші
Опубліковано: (2023)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 1: detector assessment.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 2: experimental demonstration.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - part 1: Detector assessment
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - Part 2: Experimental demonstration
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

High-resolution elastic strain measurement from electron backscatter diffraction patterns: new levels of sensitivity.
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Experimental and Numerical Study on Plastic Zone Variation ahead of Fatigue Crack Tip
за авторством: Wei Zhang, та інші
Опубліковано: (2018-01-01)

Application of Electron Backscatter Diffraction to Calcite-Twinning Paleopiezometry
за авторством: Ernest Rutter, та інші
Опубліковано: (2022-05-01)

Electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging of tilt and dislocations in nitride thin films
за авторством: Trager-Cowan, C, та інші
Опубліковано: (2007)