Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
ELECTRON-MICROSCOPY OF PROCESS...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
ELECTRON-MICROSCOPY OF PROCESS-INDUCED CRYSTAL DEFECTS
Dades bibliogràfiques
Autor principal:
Heydenreich, J
Format:
Conference item
Publicat:
1989
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
Defect analysis in electron microscopy /
per: 228370 Loretto, M. H., et al.
Publicat: (1975)
MFI crystal and film growth and defects evolution: Revealed by high resolution electron microscopy
per: Mohammad Sadegh Nabavi, et al.
Publicat: (2022-09-01)
Athermal Crystal Defect Dynamics in Si Revealed by Cryo-High-Voltage Electron Microscopy
per: Kazuhisa Sato, et al.
Publicat: (2020-01-01)
Electronic structure of defects in crystals
per: Hunter, I
Publicat: (1964)
A machine perspective of atomic defects in scanning transmission electron microscopy
per: Jiadong Dan, et al.
Publicat: (2019-09-01)