تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Atom probe tomography characte...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
Atom probe tomography characterisation of a laser diode structure grown by molecular beam epitaxy
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Bennett, SE
,
Smeeton, T
,
Saxey, D
,
Smith, G
,
Hooper, SE
,
Heffernan, J
,
Humphreys, C
,
Oliver, R
التنسيق:
Journal article
منشور في:
2012
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
مواد مشابهة
Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
حسب: Bennett, SE, وآخرون
منشور في: (2011)
Characterisation of compound semiconductors grown by molecular beam epitaxy
حسب: Zhang, Peng Hua
منشور في: (2009)
The structural characterisation of molecular beam epitaxy-grown exchange-biased bilayers
حسب: Choi, Y, وآخرون
منشور في: (2002)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
حسب: Lozano-Perez, S, وآخرون
منشور في: (2010)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
حسب: Lozano-Perez, S, وآخرون
منشور في: (2010)