Bennett, S., Smeeton, T., Saxey, D., Smith, G., Hooper, S., Heffernan, J., . . . Oliver, R. (2012). Atom probe tomography characterisation of a laser diode structure grown by molecular beam epitaxy.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Bennett, SE, T. Smeeton, D. Saxey, G. Smith, SE Hooper, J. Heffernan, C. Humphreys, та R. Oliver. Atom Probe Tomography Characterisation of a Laser Diode Structure Grown by Molecular Beam Epitaxy. 2012.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Bennett, SE, et al. Atom Probe Tomography Characterisation of a Laser Diode Structure Grown by Molecular Beam Epitaxy. 2012.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.