Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Atom probe tomography characte...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
Atom probe tomography characterisation of a laser diode structure grown by molecular beam epitaxy
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Bennett, SE
,
Smeeton, T
,
Saxey, D
,
Smith, G
,
Hooper, SE
,
Heffernan, J
,
Humphreys, C
,
Oliver, R
Μορφή:
Journal article
Έκδοση:
2012
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Περιγραφή
Περίληψη:
Παρόμοια τεκμήρια
Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
ανά: Bennett, SE, κ.ά.
Έκδοση: (2011)
Characterisation of compound semiconductors grown by molecular beam epitaxy
ανά: Zhang, Peng Hua
Έκδοση: (2009)
The structural characterisation of molecular beam epitaxy-grown exchange-biased bilayers
ανά: Choi, Y, κ.ά.
Έκδοση: (2002)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
ανά: Lozano-Perez, S, κ.ά.
Έκδοση: (2010)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
ανά: Lozano-Perez, S, κ.ά.
Έκδοση: (2010)