Անցեք բովանդակությանը
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Լեզու
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
Դասիչ
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
Atom probe tomography characte...
Վկայակոչեք սա
Գրեք սա
Էլփոստով ուղարկեք սա
Տպել
Արտահանել գրառումը
Արտահանել դեպի RefWorks
Արտահանել դեպի EndNoteWeb
Արտահանել դեպի EndNote
Մշտական հղում
Atom probe tomography characterisation of a laser diode structure grown by molecular beam epitaxy
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:
Bennett, SE
,
Smeeton, T
,
Saxey, D
,
Smith, G
,
Hooper, SE
,
Heffernan, J
,
Humphreys, C
,
Oliver, R
Ձևաչափ:
Journal article
Հրապարակվել է:
2012
Պահումներ
Նկարագրություն
Նմանատիպ նյութեր
Աշխատակազմի տեսք
Նկարագրություն
Ամփոփում:
Նմանատիպ նյութեր
Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
: Bennett, SE, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)
Characterisation of compound semiconductors grown by molecular beam epitaxy
: Zhang, Peng Hua
Հրապարակվել է: (2009)
The structural characterisation of molecular beam epitaxy-grown exchange-biased bilayers
: Choi, Y, և այլն
Հրապարակվել է: (2002)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
: Lozano-Perez, S, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
: Lozano-Perez, S, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)