Агуулга руу алгасах
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Хэл сонгох
Бүх талбарууд
Гарчиг
Зохиогч
Сэдэв
Зохиогчийн тэмдэгт
ISBN/ISSN
Шошго
Хайх
Дэлгэрэнгүй
Atom probe tomography characte...
Үүнийг ишлэх
Үүнийг мессежээр илгээх
Үүнийг цахим шуудангаар илгээх
Хэвлэх
Бүртгэлийг экспортлох
RefWorks руу экспортлох
EndNoteWeb руу экспортлох
EndNote руу экспортлох
Байнгын холбоос
Atom probe tomography characterisation of a laser diode structure grown by molecular beam epitaxy
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолчид:
Bennett, SE
,
Smeeton, T
,
Saxey, D
,
Smith, G
,
Hooper, SE
,
Heffernan, J
,
Humphreys, C
,
Oliver, R
Формат:
Journal article
Хэвлэсэн:
2012
Түр хойшлуулсан зүйлс
Тодорхойлолт
Ижил төстэй зүйлс
Ажилтнуудыг харах
Тодорхойлолт
Тойм:
Ижил төстэй зүйлс
Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
-н: Bennett, SE, зэрэг
Хэвлэсэн: (2011)
Characterisation of compound semiconductors grown by molecular beam epitaxy
-н: Zhang, Peng Hua
Хэвлэсэн: (2009)
The structural characterisation of molecular beam epitaxy-grown exchange-biased bilayers
-н: Choi, Y, зэрэг
Хэвлэсэн: (2002)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
-н: Lozano-Perez, S, зэрэг
Хэвлэсэн: (2010)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
-н: Lozano-Perez, S, зэрэг
Хэвлэсэн: (2010)