Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Vsa polja
Naslov
Avtor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Išči
Napredno
Atom probe tomography characte...
Citiraj
Pošljite SMS
Pošljite email
Natisni
Izvozi zadetek
Izvozi v RefWorks
Izvozi v EndNoteWeb
Izvozi v EndNote
Permanent link
Atom probe tomography characterisation of a laser diode structure grown by molecular beam epitaxy
Bibliografske podrobnosti
Main Authors:
Bennett, SE
,
Smeeton, T
,
Saxey, D
,
Smith, G
,
Hooper, SE
,
Heffernan, J
,
Humphreys, C
,
Oliver, R
Format:
Journal article
Izdano:
2012
Zaloga
Opis
Podobne knjige/članki
Knjižničarski pogled
Opis
Izvleček:
Podobne knjige/članki
Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
od: Bennett, SE, et al.
Izdano: (2011)
Characterisation of compound semiconductors grown by molecular beam epitaxy
od: Zhang, Peng Hua
Izdano: (2009)
The structural characterisation of molecular beam epitaxy-grown exchange-biased bilayers
od: Choi, Y, et al.
Izdano: (2002)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
od: Lozano-Perez, S, et al.
Izdano: (2010)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
od: Lozano-Perez, S, et al.
Izdano: (2010)