İçeriği atla
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Dil
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
Atom probe tomography characte...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Kalıcı bağlantı
Atom probe tomography characterisation of a laser diode structure grown by molecular beam epitaxy
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:
Bennett, SE
,
Smeeton, T
,
Saxey, D
,
Smith, G
,
Hooper, SE
,
Heffernan, J
,
Humphreys, C
,
Oliver, R
Materyal Türü:
Journal article
Baskı/Yayın Bilgisi:
2012
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Diğer Bilgiler
Özet:
Benzer Materyaller
Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
Yazar:: Bennett, SE, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)
Characterisation of compound semiconductors grown by molecular beam epitaxy
Yazar:: Zhang, Peng Hua
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)
The structural characterisation of molecular beam epitaxy-grown exchange-biased bilayers
Yazar:: Choi, Y, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2002)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
Yazar:: Lozano-Perez, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
Yazar:: Lozano-Perez, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)