Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
Atom probe tomography characte...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
Atom probe tomography characterisation of a laser diode structure grown by molecular beam epitaxy
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
Bennett, SE
,
Smeeton, T
,
Saxey, D
,
Smith, G
,
Hooper, SE
,
Heffernan, J
,
Humphreys, C
,
Oliver, R
Formatua:
Journal article
Argitaratua:
2012
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Antzeko izenburuak
Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
nork: Bennett, SE, et al.
Argitaratua: (2011)
Characterisation of compound semiconductors grown by molecular beam epitaxy
nork: Zhang, Peng Hua
Argitaratua: (2009)
The structural characterisation of molecular beam epitaxy-grown exchange-biased bilayers
nork: Choi, Y, et al.
Argitaratua: (2002)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
nork: Lozano-Perez, S, et al.
Argitaratua: (2010)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
nork: Lozano-Perez, S, et al.
Argitaratua: (2010)