Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Atom probe tomography characte...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
Atom probe tomography characterisation of a laser diode structure grown by molecular beam epitaxy
מידע ביבליוגרפי
Main Authors:
Bennett, SE
,
Smeeton, T
,
Saxey, D
,
Smith, G
,
Hooper, SE
,
Heffernan, J
,
Humphreys, C
,
Oliver, R
פורמט:
Journal article
יצא לאור:
2012
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
מאת: Bennett, SE, et al.
יצא לאור: (2011)
Characterisation of compound semiconductors grown by molecular beam epitaxy
מאת: Zhang, Peng Hua
יצא לאור: (2009)
The structural characterisation of molecular beam epitaxy-grown exchange-biased bilayers
מאת: Choi, Y, et al.
יצא לאור: (2002)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
מאת: Lozano-Perez, S, et al.
יצא לאור: (2010)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
מאת: Lozano-Perez, S, et al.
יצא לאור: (2010)