Hoppa till innehåll
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Språk
Alla fält
Titel
Upphovsman
Ämne
Signum
ISBN/ISSN
Tagg
Sök
Avancerad
Atom probe tomography characte...
Hänvisa
Textmeddelande
Skicka per e-post
Skriv ut
Exportera posten
Exportera till: RefWorks
Exportera till: EndNoteWeb
Exportera till: EndNote
Permanent länk
Atom probe tomography characterisation of a laser diode structure grown by molecular beam epitaxy
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsmän:
Bennett, SE
,
Smeeton, T
,
Saxey, D
,
Smith, G
,
Hooper, SE
,
Heffernan, J
,
Humphreys, C
,
Oliver, R
Materialtyp:
Journal article
Publicerad:
2012
Beståndsuppgifter
Beskrivning
Liknande verk
Katalogiseringsuppgifter
Liknande verk
Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
av: Bennett, SE, et al.
Publicerad: (2011)
Characterisation of compound semiconductors grown by molecular beam epitaxy
av: Zhang, Peng Hua
Publicerad: (2009)
The structural characterisation of molecular beam epitaxy-grown exchange-biased bilayers
av: Choi, Y, et al.
Publicerad: (2002)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
av: Lozano-Perez, S, et al.
Publicerad: (2010)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
av: Lozano-Perez, S, et al.
Publicerad: (2010)