Kirkland, A., & Meyer, R. (2004). Indirect transmission electron microscopy; Aberration measurement and compensation and exit wave reconstruction.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Kirkland, A., και R. Meyer. Indirect Transmission Electron Microscopy; Aberration Measurement and Compensation and Exit Wave Reconstruction. 2004.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)Kirkland, A., και R. Meyer. Indirect Transmission Electron Microscopy; Aberration Measurement and Compensation and Exit Wave Reconstruction. 2004.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.