Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
প্রধান লেখক: | Wilkinson, A, Meaden, G, Dingley, D |
---|---|
বিন্যাস: | Journal article |
ভাষা: | English |
প্রকাশিত: |
2006
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2009) -
Strain mapping using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2009) -
Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
অনুযায়ী: Dingley, D, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2010) -
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2006) -
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)