Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction

Podobné jednotky

• Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
  Autor: Wilkinson, A, a další
  Vydáno: (2009)
• Strain mapping using electron backscatter diffraction
  Autor: Wilkinson, A, a další
  Vydáno: (2009)
• Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
  Autor: Dingley, D, a další
  Vydáno: (2010)
• High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
  Autor: Wilkinson, A, a další
  Vydáno: (2006)
• High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
  Autor: Wilkinson, A, a další
  Vydáno: (2013)